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光無源器件，電子元器件產(chǎn)品的可靠性試驗方法，商業(yè)標準及失效分析

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光無源器件，電子元器件產(chǎn)品的可靠性試驗方法，商業(yè)標準及失效分析

韓梅梅創(chuàng)建于2012-05-24 最后編輯: 2012-06-01 15:14 5,127閱讀 2人收藏
一些世界著名的商業(yè)標準，可用于電子院器件和光無源器件，并包括有關可靠性的資料，可以為高校學生和可靠性工程師學習使用。
共 10 個文檔
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